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高阻計結構組成、測量原理

更新時間:2025-05-13      點擊次數:54

高阻計結構組成

測量電路:包括恒壓源、電流測量電路、電壓測量電路等。恒壓源用于提供穩定的測量電壓,電流測量電路用于檢測通過被測電阻的微弱電流,電壓測量電路用于測量被測電阻兩端的電壓。

顯示部分:用于顯示測量結果,有指針式和數字式兩種。指針式通過指針在刻度盤上的位置顯示電阻值,數字式則通過數字顯示屏直接顯示電阻值。

測量端:與被測電阻相連,包括輸入端鈕、高壓端鈕、接地端鈕等。

控制部分:包括倍率選擇開關、測試電壓選擇開關、“+"“-"極性開關、放電測試開關等,用于控制測量過程中的各種參數和操作。

高阻計測量原理

歐姆定律擴展法:根據歐姆定律,被測電阻等于施加電壓除以通過的電流。高阻計通過施加已知直流電壓至被測材料,檢測極微弱電流,然后通過公式計算電阻值。為提高精度,通常采用靜電計放大器或跨阻放大器增強電流信號。

同時測量電壓電流法:一些高阻計同時測出電阻兩端的電壓和流過電阻的電流,通過內部大規模集成電路完成電壓除以電流的計算,然后把結果經過A/D轉換后以數字顯示電阻值。這種方法即使電壓和電流同時變化,顯示的電阻值也不會像傳統高阻計那樣因電壓或電流變化而變化,測量精度很高。

三電極法與四電極法:三電極法用于測量體積電阻,通過保護環消除表面泄漏電流;四電極法用于測試表面電阻,通過雙環形電極分離表面導電與體積導電路徑。



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